Atomivoimamikroskooppi
-
atomivoima afm mikroskooppi
Merkki: NANBEI
Malli: AFM
Atomic Force Microscope (AFM), analyyttinen instrumentti, jolla voidaan tutkia kiinteiden materiaalien pintarakennetta, mukaan lukien eristeet.Se tutkii aineen pintarakennetta ja ominaisuuksia havaitsemalla erittäin heikon atomien välisen vuorovaikutuksen testattavan näytteen pinnan ja mikrovoimaherkän elementin välillä.
